【研究分野】計算機システム

【研究領域課題番号】15H02677 (KAKENデータベースで見る）

【研究キーワード】

IoT / ソフトエラー / 経年劣化 / パワーエレクトロニクス / 一時故障 / 永久故障 / NBTI / RTN / 信頼性 / ランダムテレグラフノイズ / BTI / パワエレ / FDSOI / バルク / スタックトランジスタ

【研究成果の概要】

高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現を目指して，次の項目の研究を行った．
1．一時故障に強靭な回路，2．経年劣化に強靭な回路，3．電源の小型化による信頼性の向上
1.では試作LSIをα線/中性子/重イオンを照射し従来回路の100倍程度の強靭さを確認した．2．では数ヶ月の長期にわたって高温かつ電源電圧の高い環境に置き，劣化の様子を観測した．3.では，横型GaN HEMTを用いた集積回路を試作し正常動作を確認した．

【研究種目】基盤研究(B)

【研究期間】2015-04-01 - 2019-03-31

【配分額】15,990千円 (直接経費: 12,300千円、間接経費: 3,690千円)