SiCの2次非線形光学定数精密測定
【研究分野】応用光学・量子光工学
【研究キーワード】
SiC / 非線形光学定数 / 波長変換 / 多重反射効果 / メーカーフリンジ法 / ウェッジ法
【研究成果の概要】
次世代の高出力可視光発生波長変換材料として期待されるSiCの2次非線形光学定数の精密測定を行った.複数の製造業者で作製された4Hと6Hの2種類の結晶多形,(0001)と(11-20)の2種類の面方位の高品質試料に対し,回転型メーカーフリンジ法とウェッジ法の2種類の測定法を用い,基本波波長1.064μmで測定し,厳密な解析を行った.その結果,製造業者・面方位・測定法によらず一致した正確な値が得られた.また,4H-SiCのd33は6H-SiCのd33より6 %小さいことがわかった.今回明らかとなったSiCの2次非線形光学定数は,今後,SiCを用いた高出力高効率波長変換デバイスを精密に設計するうえで不可欠となる.
【研究代表者】
【研究連携者】 |
| 近藤 高志 | 東京大学 | 工学系研究科 | 教授 | (Kakenデータベース) |
| 須田 淳 | 京都大学 | 工学研究科 | 准教授 | (Kakenデータベース) |
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【研究協力者】 |
| 佐藤 弘章 | 中央大学 | 理工学研究科 | 修士課程 |
| 阿部 真 | 東京大学 | 工学系研究科 | 博士課程 |
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【研究種目】基盤研究(C)
【研究期間】2008 - 2010
【配分額】4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)