非破壊接触型アマルガム多探針による単分子膜の電気伝導測定法の開発
【研究分野】薄膜・表面界面物性
【研究キーワード】
薄膜 / 電気伝導 / 局所プローブ / 有機分子 / 非破壊 / 有機薄膜 / 四探針測定 / 液体金属 / 表面電気伝導 / アマルガム / 探針
【研究成果の概要】
液体金属で先端をコートした探針を使った非破壊接触型４探針電気伝導測定装置を開発した．先端を化学エッチングしたφ0.25の金線を水銀と接触させ，先端を液体金属化した．実験により、金属探針先端の液体金属層の厚みが少なくとも３μmあることがわかった．この探針を用いると探針間距離は数mmから数μm程度まで接近させることができ，探針間距離を関数とした電気伝導度の振る舞いから、表面電気伝導とバルク電気伝導を区別することが可能となる．今後はこの装置を用いて、有機分子で化学修飾したシリコン表面における分子間の電気伝導測定，単分子層から数層程度の有機半導体薄膜の表面電気伝導特性を明らかにしたい。
【研究代表者】
【研究連携者】 |
| 吉本 真也 | 東京大学 | 物性研究所 | 助教 | (Kakenデータベース) |
|
【研究種目】挑戦的萌芽研究
【研究期間】2013-04-01 - 2015-03-31
【配分額】4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)