スピン偏極走査ポテンショメトリ装置の開発と微細加工した表面ラシュバ系のスピン伝導
【研究分野】薄膜・表面界面物性
【研究キーワード】
表面 / スピントロニクス / 物性実験 / 表面・界面 / ナノスケール電気伝導測定技術 / スピンエレクトロニクス / 表面・界面物性
【研究成果の概要】
本研究の目的は微小領域の電位分布測定が可能な走査トンネルポテンショメトリ(STP)測定を行い、表面ラシュバ系の電荷・スピン伝導を検出することであった。そのために超高真空、低温、強磁場下で動作する走査トンネル顕微鏡(STM)を建設した。そしてSTP測定用の回路をこのSTM装置に組み込み、電流印加時の表面形状測定と局所電位測定が同時に行えることを実証した。具体的にはSi(111)表面上に作成できるBi(111)超薄膜に対してSTP測定を行い、電位勾配をきちんと測定できた。また表面を微細加工して非局所伝導を測定することでBi2e3薄膜のスピンホール効果を測定することができた。
【研究代表者】
【研究種目】若手研究(A)
【研究期間】2011-04-01 - 2014-03-31
【配分額】27,690千円 (直接経費: 21,300千円、間接経費: 6,390千円)