「半導体」に関するサイレントキーワード「計測システム」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】光散乱法を用いた非接触圧電特性評価システムの開発
【研究代表者】松川 真美  同志社大学   理工学部   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060288602/	 
【研究分担者】
柳谷 隆彦  名古屋工業大学  工学(系)研究科(研究院)  助教  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000010450652/