「薄膜」に関するサイレントキーワード「非破壊検査」が含まれる科研費採択研究2件

【研究名】異材接合界面のミクロ階層構造を考慮した強度則に関する研究
【研究代表者】岸本 喜久雄  東京工業大学   大学院・理工学研究科   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000030111652/	 
【研究分担者】
井上 裕嗣  東京工業大学  大学院・理工学研究科  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090193606/	
大宮 正毅  東京工業大学  大学院・理工学研究科  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000030302938/	
荒井 正行  電力中央研究所  金属材料部  主任研究員 

【研究名】電子デバイス用薄膜の弾性定数の超音波顕微鏡による測定
【研究代表者】朴 位坤  東京工業大学   工学部   助手 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060238243/	 
【研究分担者】
轟 章  東京工業大学  工学部  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000050211397/	
中村 春夫  東京工業大学  工学部  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040134829/	
小林 英男  東京工業大学  工学部  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000000016487/