「薄膜」に関するサイレントキーワード「材料試験」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】電子デバイス用薄膜の弾性定数の超音波顕微鏡による測定
【研究代表者】朴 位坤  東京工業大学   工学部   助手 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060238243/	 
【研究分担者】
轟 章  東京工業大学  工学部  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000050211397/	
中村 春夫  東京工業大学  工学部  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040134829/	
小林 英男  東京工業大学  工学部  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000000016487/