「X線」に関するサイレントキーワード「界面活性剤」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】液液界面に吸着した金属錯体の全反射XAFS測定
【研究代表者】谷田 肇  財団法人高輝度光科学研究センター   利用研究促進部門XAFS・分析チーム   副主幹研究員 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070301760/	 
【研究分担者】
永谷 広久  長崎大学  工学部  助教  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090346297/	
原田 誠  東京工業大学  理工学研究科  助教  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060313326/