「劣化」に関するサイレントキーワード「膜破断検知」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】光ファイバセンサを用いたろ過膜の完全性を常時監視可能な新規手法の開発研究
【研究代表者】橋本 崇史  東京大学   先端科学技術研究センター   講師 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080735712/