「遺伝的アルゴリズム(GA)」に関するサイレントキーワード「広範囲高精度測定」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】内部モニタリングを特徴とする熱変形補償型高精密三次元測定機の試作研究
【研究代表者】長尾 高明  東京大学   大学院・工学系研究科   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080010685/	 
【研究分担者】
福井 豊治  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/10000株)東京精密  生産本部・汎用計測機器グループ  グループリーダ
中尾 政之  東京大学  大学院・工学系研究科  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090242007/	
畑村 洋太郎  東京大学  大学院・工学系研究科  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040010863/	
光石 衛  東京大学  大学院・工学系研究科  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090183110/