「走査型トンネル顕微鏡(STM)」に関するサイレントキーワード「ショットキー障壁」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】バリスティック電子放射顕微鏡による金属半導体界面のエッジにおける電気的特性の測定
【研究代表者】長谷川 幸雄  東北大学   金属材料研究所   助教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080252493/	 
【研究分担者】
橋詰 富博  日立製作所  基礎研究所  主任研究員
XUE Qikun  東北大学  金属材料研究所  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090270826/	
桜井 利夫  東北大学  金属材料研究所  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000020143539/