「薄膜」に関するサイレントキーワード「四探針測定」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】非破壊接触型アマルガム多探針による単分子膜の電気伝導測定法の開発
【研究代表者】吉信 淳  東京大学   物性研究所   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000050202403/	
【研究連携者】     
吉本 真也  東京大学  物性研究所  助教  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090507831/