「ナノ構造」に関するサイレントキーワード「薄膜・表面界面物性」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】走査プローブ顕微鏡によるナノスケール局所電気特性計測に関する理論解析
【研究代表者】渡邉 聡  東京大学   大学院・工学系研究科   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000000292772/	 
【研究分担者】
多田 朋史  東京大学  大学院・工学系研究科  特任准教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040376512/	
戸塚 英臣  日本大学  理工学部  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000010339260/	
【研究連携者】     
戸塚 英臣  日本大学  理工学部  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000010339260/