「走査型トンネル顕微鏡(STM)」に関するサイレントキーワード「密度変調・歪整合型格子」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】走査型マイクロ蒸発源による密度変調・歪整合型SiGeC格子の研究
【研究代表者】高柳 邦夫  東京工業大学   大学院・総合理工学研究科   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080016162/	 
【研究分担者】
大島 義文  東京工業大学  大学院・総合理工学研究科  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080272699/	
平山 博之  東京工業大学  大学院・総合理工学研究科  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060271582/